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影響簡(jiǎn)單型涂層測(cè)厚儀測(cè)量數(shù)據(jù)的因素

更新時(shí)間:2017-03-29      點(diǎn)擊次數(shù):2373
1.簡(jiǎn)單型涂層測(cè)厚儀測(cè)量涂層厚度受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的);
2.為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);
3.簡(jiǎn)單型涂層測(cè)厚儀基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);
4.每一種涂層測(cè)厚儀都有一個(gè)臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;
5.對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,隨著曲率半徑的減少明顯地增大,因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;
6.簡(jiǎn)單型涂層測(cè)厚儀探頭會(huì)使軟涂層試件變形,因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù);
7.基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,影響增大,粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙,還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn),或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn);
8.簡(jiǎn)單型涂層測(cè)厚儀周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作;
9.那些妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì),必須清除,在測(cè)量中,要保持壓力恒定,探頭與試件表面保持垂直,才能達(dá)到的測(cè)量。 
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