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影響涂層測厚儀測量精度的因素

更新時(shí)間:2010-04-28      點(diǎn)擊次數(shù):2459
1.影響涂層測厚儀測量精度因素的有關(guān)說明

  磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

  基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

  每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

  試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
  f 試件的變形
  測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
  g 表面粗糙度
  基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。 粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點(diǎn)。
  g 磁場
  周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
  h 附著物質(zhì)
  本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
  i 測頭壓力
  測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
  j 測頭的取向
  測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
  2.使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
  a 基體金屬特性
  對于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
     對于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
  b 基體金屬厚度
  檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
  c 邊緣效應(yīng)
  不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
  d 曲率
  不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
  e 讀數(shù)次數(shù)
  通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
  f 表面清潔度
  測量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)
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